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BRUKER Nano
Microanalyses X et diffraction d'électrons
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XTRACE2 Micro-XRF (micro fluorescence) Bruker Nano
Le système XTrace est le plus évolué de la gamme des appareils de micro-fluorescence pour microscope électronique à balayage.
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Il est doté d’une optique de type polycapillaire, le faisceau X est focalisé sur 25 µm.
Cet appareil couplé à votre EDS, permet l’analyse ponctuelle, l’acquisition de profils et de cartographies sur des échantillons sans préparation préalable, l’analyse combinée est rendue possible par la toute nouvelle interface ESPRIT 2.0.
Système EBSD Bruker Nano
Leader dans le domaine de la diffraction de rayons X, BRUKER Nano complète son offre en microscopie électronique et propose le système CrystAlign d’analyse par diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD), intégré au système EDS Quantax.
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XSENSE Spectromètre WDS BRUKER Nano
Nouveau spectromètre WDS à faisceau parallèle.
Grace à une optique performante, une électronique rapide et une mécanique très innovante le système XSense est le complément idéal au détecteur SDD.
Sa résolution de 4,7 eV sur le K alpha du silicium permet d’atteindre une sensibilité et une sélection bien supérieure au détecteur SDD.
Système EDS Quantax de Bruker Nano
Une nouvelle fois, Bruker s’impose comme une référence en matière de performances et de fonctionnalités pour la spectrométrie à sélection d’énergie en microscopie électronique à balayage. La nouvelle génération de détecteurs XFlash® 6 se distingue par des surfaces actives comprises entre 10 et 100 mm2.
La génération 6 comprend les matériels et logiciels qui permettent d’obtenir les résultats les plus rapides et les plus fiables :
Un gain de temps : des détecteurs SDD de grande surface et de faible diamètre alliés à un traitement du signal performant permettent des acquisitions plus rapides
Une facilité d’emploi : des détecteurs légers et motorisés, ce qui facilite insertion ou rétraction
Une meilleure précision : des résolutions spectrales exceptionnelles pour des analyses de grande précision
Une meilleure fiabilité : des bases de données complètes garantissent une identification fiable des raies de basse énergie
Plus de justesse : des algorithmes de quantification éprouvés, des méthodes d’analyse avec témoins simulés ou réels pour des résultats justes.
La nouvelle génération de détecteurs XFlash® 7 est arrivée, contactez-nous pour en savoir plus…
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Rapid Stage
Le module Rapid Stage comprend une platine X-Y à moteurs piézo-électriques à fixer sur la platine existante du microscope (hauteur 27mm et d’un poids de 300grs), elle est compatible avec tous les microscopes.
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